為何SiC MOSFET必須通過(guò)AEC-Q101認(rèn)證？

SiC（金屬氧化物半導(dǎo)體碳化硅）MOSFET憑借高耐壓、高效率、高溫工作能力等特性，正快速取代傳統(tǒng)硅器件，廣泛用于新能源汽車(chē)主驅(qū)逆變器、OBC車(chē)載充電機(jī)、DC/DC轉(zhuǎn)換器等關(guān)鍵電力電子模塊。

對(duì)于車(chē)用市場(chǎng)而言，AEC-Q101認(rèn)證是評(píng)估半導(dǎo)體分立器件可靠性與一致性的重要門(mén)檻。未通過(guò)該標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證的器件，無(wú)法進(jìn)入主流車(chē)企供應(yīng)鏈體系，也難以滿(mǎn)足IATF16949及ISO26262功能安全要求的前置條件。

SiC MOSFET在汽車(chē)電子中的核心應(yīng)用

SiC MOSFET的優(yōu)勢(shì)在高壓 (>650V)、高溫（>175°C）與高頻 (>100kHz) 工況下仍能保持穩(wěn)定性能，但這也對(duì)其可靠性測(cè)試提出了更高標(biāo)準(zhǔn)——這正是AEC-Q101認(rèn)證存在的意義。

AEC-Q101認(rèn)證是什么？

AEC-Q101是由汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC）發(fā)布的車(chē)規(guī)級(jí)分立半導(dǎo)體可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)，適用于二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等器件。

該標(biāo)準(zhǔn)旨在通過(guò)一系列應(yīng)力測(cè)試與加速壽命試驗(yàn)，驗(yàn)證器件在極端汽車(chē)工況下的穩(wěn)定性與一致性。

來(lái)源：AEC-Q101-Rev.E:2021《Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors In Automotive Applications》

AEC-Q101認(rèn)證常見(jiàn)混淆點(diǎn)

SiC MOSFET AEC-Q101認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目（依據(jù)AEC-Q101-Rev.E:2021）

AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)項(xiàng)目分為五大組，SiC MOSFET的主要測(cè)試包括：

A組：加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試

- 高加速壽命試驗(yàn)（HAST）

- 高溫高濕反向偏壓（HTRB）

- 溫度循環(huán)（TC）

- 功率循環(huán)（Power Cycling）

- 高溫儲(chǔ)存（HTS）

B組：加速壽命模擬測(cè)試

- 高溫反向偏壓壽命（HTRB Life）

- 高溫柵極偏壓壽命（HTGB）

- 穩(wěn)態(tài)操作壽命（Steady-State Life）

C組：封裝結(jié)構(gòu)完整性

- 物理尺寸與邦線(xiàn)強(qiáng)度

- 熱阻測(cè)試

- 可焊性與耐焊接熱

- 機(jī)械沖擊與變頻振動(dòng)

D組：芯片制造可靠性

- 介電擊穿與材料完整性分析

E組：電氣與ESD驗(yàn)證

- HBM/CDM靜電放電等級(jí)確認(rèn)

- 功能參數(shù)前后對(duì)比

- 短路與無(wú)鉗位感應(yīng)開(kāi)關(guān)測(cè)試

注：具體測(cè)試項(xiàng)目應(yīng)根據(jù)器件類(lèi)型、封裝形式及應(yīng)用環(huán)境由實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行定制化確認(rèn)。

影響SiC MOSFET AEC-Q101認(rèn)證費(fèi)用的主要因素

1. 器件類(lèi)別與封裝結(jié)構(gòu)（如TO-247、D2PAK、SMD等）

2. 測(cè)試項(xiàng)目數(shù)量與樣品批量

3. 溫度等級(jí)要求（-40°C~+150°C或更高）

4. 客戶(hù)定制項(xiàng)目（如功率循環(huán)次數(shù)、額外應(yīng)力試驗(yàn)）

5. 是否包含失效分析與一致性評(píng)估

一般而言，常規(guī)的試驗(yàn)周期3-4個(gè)月，費(fèi)用與測(cè)試組合及樣品數(shù)量密切相關(guān)。

AEC-Q101認(rèn)證檢測(cè)報(bào)告辦理流程

1. 需求確認(rèn)：確定器件型號(hào)、封裝形式及應(yīng)用領(lǐng)域

2. 方案制定：優(yōu)科檢測(cè)依據(jù)AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)制定測(cè)試計(jì)劃

3. 樣品接收與預(yù)處理

4. 環(huán)境與壽命試驗(yàn)執(zhí)行

5. 中間與終點(diǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)記錄

6. 數(shù)據(jù)分析與失效評(píng)估

7. 出具CNAS認(rèn)可的AEC-Q101測(cè)試報(bào)告

優(yōu)科檢測(cè)能提供的服務(wù)

優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)與完整可靠性測(cè)試能力體系，可提供：

- SiC MOSFET、IGBT、TVS管、二極管等分立器件AEC-Q101認(rèn)證測(cè)試

- 可靠性驗(yàn)證（HTRB、HTGB、TC、PCT、HAST等）

- 失效分析（FA）與破壞性物理分析（DPA）

- 一致性抽檢、變更驗(yàn)證與加速壽命試驗(yàn)

- 第三方AEC-Q101報(bào)告出具與車(chē)廠資料支持

常見(jiàn)問(wèn)題解答（FAQ）

Q1：SiC MOSFET AEC-Q101認(rèn)證周期一般多久？

依據(jù)測(cè)試項(xiàng)目數(shù)量不同，一般為3-4個(gè)月。

Q2：AEC-Q101測(cè)試報(bào)告是否等同“認(rèn)證證書(shū)”？

否。報(bào)告由CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室出具，屬于第三方驗(yàn)證文件，不由AEC官方頒發(fā)。

Q3：是否可以部分項(xiàng)目預(yù)測(cè)試？

可以。優(yōu)科可根據(jù)研發(fā)階段提供部分項(xiàng)驗(yàn)證（如HTRB、TC、PCT）預(yù)測(cè)試。

Q4：SiC MOSFET通過(guò)AEC-Q101后能否進(jìn)入車(chē)廠？

可作為前置條件，但還需配合PPAP文件與功能安全驗(yàn)證。

隨著新能源汽車(chē)與高壓電驅(qū)系統(tǒng)的普及，SiC MOSFET的車(chē)規(guī)認(rèn)證需求持續(xù)增長(zhǎng)。

通過(guò)AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證，不僅能證明器件的高可靠性與一致性，更是進(jìn)入主機(jī)廠供應(yīng)體系的“通行證”。

優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證憑借完善的設(shè)備配置與豐富經(jīng)驗(yàn)，可為企業(yè)提供一站式SiC MOSFET AEC-Q101認(rèn)證測(cè)試服務(wù)，助力產(chǎn)品快速通過(guò)車(chē)規(guī)驗(yàn)證，順利導(dǎo)入量產(chǎn)。